Atom probu

Atom probu, 1967'de Erwin Wilhelm Müller ve JA Panitz tarafından 14. Alan Emisyon Sempozyumunda tanıtıldı. Atom probu alan iyon mikroskobu ile tek bir parçacık algılama özelliğine sahip bir kütle spektrometresini birleştirdi ve böylece ilk kez bir alet "... metal bir yüzeyde görülen ve gözlemcinin takdirine bağlı olarak komşu atomlardan seçilen tek bir atomun doğasını belirleyebildi".[1]

Bir atom probundan elde edilen verilerin görselleştirilmesi. Her nokta, tespit edilen buharlaştırılmış iyonlardan yeniden yapılandırılmış bir atom pozisyonunu temsil eder.

Atom probları, geleneksel optik veya elektron mikroskoplarından farklıdır, çünkü büyütme etkisi, radyasyon yollarının manipülasyonundan ziyade oldukça eğimli bir elektrik alanı tarafından sağlanan büyütmeden gelir. Yöntem, doğası gereği tahrip edicidir, iyonları görüntülemek ve tanımlamak için bir numune yüzeyinden uzaklaştırır ve numune yüzeyinden çıkarılırken tek tek atomları gözlemlemek için yeterli büyütmeler üretir. Bu büyütme yönteminin uçuş zamanı kütle spektrometresi ile birleştirilmesi yoluyla, elektrik darbelerinin uygulanmasıyla buharlaşan iyonların kütle-yük oranı hesaplanabilir.[2]

Materyalin art arda buharlaştırılmasıyla, bir numuneden atom katmanları çıkarılır, bu da sadece yüzeyin değil, aynı zamanda materyalin kendisinin de araştırılmasına izin verir.[3] Numunenin buharlaştırılmadan önce üç boyutlu görünümünü yeniden oluşturmak için bilgisayar yöntemleri kullanılır, bir numunenin yapısı hakkında atomik ölçek bilgisi sağlanır ve ayrıca tip atomik tür bilgileri sağlanır.[4] Cihaz, keskin bir uçtan milyarlarca atomun üç boyutlu yeniden yapılandırılmasına izin verir.

Kaynakça
  1. Müller (1968). "The Atom-Probe Field Ion Microscope". Review of Scientific Instruments. 39 (1): 83-86. doi:10.1063/1.1683116. ISSN 0034-6748.
  2. Müller, E. W. (1970). "The Atom-Probe Field Ion Microscope". Naturwissenschaften. 5: 222-230.
  3. Atom Probe Microanalysis: Principles and Applications to Materials Problems. Materials Research Society. 1989. ISBN 978-0-931837-99-9.
  4. Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level. Kluwer Academic/Plenum Publishers. 2000. ISBN 978-0-306-46415-7.

Konuyla ilgili yayınlar
  • Michael K. Miller, George D.W. Smith, Alfred Cerezo, Mark G. Hetherington (1996) Atom Probe Field Ion Microscopy Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, Oxford: Oxford University Press. 9780198513872ISBN 9780198513872.
  • Michael K. Miller (2000) Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level. New York: Kluwer Academic. 0306464152ISBN 0306464152
  • Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, SImon P. Ringer (2012) Atom Probe Microscopy, Springer Series in Materials Science, Vol. 160, New York: Springer. 978-1-4614-3436-8ISBN 978-1-4614-3436-8
  • David J. Larson, Ty J. Prosa, Robert M. Ulfig, Brian P. Geiser, Thomas F. Kelly (2013) Local Electrode Atom Probe Tomography - A User's Guide, Springer Characterization & Evaluation of Materials, New York: Springer. 978-1-4614-8721-0ISBN 978-1-4614-8721-0

Dış bağlantılar
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.